TDR特性阻抗測(cè)試儀

特性阻抗/特性阻抗測(cè)試儀/PCB傳輸線阻抗測(cè)試儀/差分阻抗測(cè)試儀產(chǎn)品用途
   本產(chǎn)品是采用時(shí)域反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)的特性阻抗測(cè)試儀，能夠在線檢測(cè)PCB傳輸線特性阻抗， 實(shí)現(xiàn)對(duì)高速PCB信號(hào)線阻抗變化情況的高精度在線檢測(cè)和出廠測(cè)試。產(chǎn)品具有如下特性：
1.實(shí)時(shí)性：能夠?qū)崟r(shí)在線檢測(cè)PCB特性阻抗，測(cè)試速度<1秒/點(diǎn)；
2. 適用性：適用于印制板的特性阻抗試驗(yàn)方法，能滿足測(cè)試需求；
3 可靠性：保證檢測(cè)設(shè)備本身和檢測(cè)結(jié)果的可靠性；
4 精度高：在尺寸、垂直分辨率、水平分辨率、測(cè)量距離等方面的測(cè)量精度可滿足印制板的測(cè)量需要；
5 數(shù)字化、智能化：實(shí)現(xiàn)圖形、數(shù)字統(tǒng)計(jì)，自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告。

TDR特性阻抗測(cè)試儀

特性阻抗//傳輸線阻抗測(cè)試儀，差分阻抗測(cè)試儀，印制板阻抗試驗(yàn)儀產(chǎn)品特性
1.4.1 線性的阻抗與距離的波形顯示
1.4.2 差分阻抗測(cè)試
1.4.3 測(cè)量結(jié)果的快速的日志
1.4.4 WINDOWS環(huán)境
1.4.5 PCB軌跡PASS/FAIL的結(jié)論
1.4.6 保存測(cè)量結(jié)果
1.4.7 綜合的測(cè)試文件編輯
1.4.8 結(jié)果對(duì)比的波形覆蓋
特性阻抗//PCB特征：
   1、批量化、自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快捷，適合PCB工廠快速測(cè)試。
   2、Windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。
   3、提供單端和差分阻抗測(cè)試。
   4、支持2通道、4通道及8通道測(cè)試。
   5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。
   6、集成測(cè)試文件編輯器，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。
   7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤上。
   8、顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。
   9、打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。
   10、符合IPC-TM-650和IPC2141標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)試原理總結(jié)：       階躍脈沖發(fā)生器發(fā)出一個(gè)快上升沿的階躍脈沖。同時(shí)接收模塊采集反射信號(hào)的時(shí)域波形。如果被測(cè)件的阻抗是連續(xù)的，則信號(hào)沒有反射，如果有阻抗的變化，
就會(huì)有信號(hào)反射回來。根據(jù)反射回波的時(shí)間可以判斷阻抗不連續(xù)點(diǎn)距接收端的距離，
根據(jù)反射回來的幅度可以判斷相應(yīng)點(diǎn)的阻抗變化。
1. 單端測(cè)試精度：     單端50歐姆：±1%；單端28歐姆：±1.5%     單端75歐姆：±1.25%；單端100歐姆：±1.5%； 2. 差分測(cè)試精度：100歐姆：±2%；150歐姆：±2.5%；
產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)
1、國(guó)內(nèi)采用TDR時(shí)域反射測(cè)試技術(shù)； 2、Windows界面風(fēng)格，操作簡(jiǎn)單； 3、安全性能高，在同等環(huán)境條件下，儀器具有獨(dú)           立靜電保護(hù)模塊；        
 4、可快速進(jìn)行批量檢測(cè)（PCB阻抗板），提高效率         增加產(chǎn)值；  5、測(cè)量精度高 精度達(dá)到單端（50?±1%） ；差分（         100?±2%）； 6、采用模塊化設(shè)計(jì)，維護(hù)便捷，維修周期短； 7、智能化校準(zhǔn)功能，可選擇自動(dòng)測(cè)試；
8、綠色開放軟件，用戶可自行不定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；