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涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)量原理

發(fā)布于:2012-10-15
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磁吸引力測(cè)量原理及塗層測(cè)厚儀  

永久探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的距離成一定比例關(guān)係。這個(gè)距離就是塗層的厚度。根據(jù)這一原理製成塗層測(cè)厚儀,只要塗層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大,就可進(jìn)行塗層測(cè)量。鑒於大多數(shù)工業(yè)品採(cǎi)用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板衝壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用最廣。塗層測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,尺規(guī)及自動(dòng)停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合後,將測(cè)量簧在其後逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大於吸引力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得塗層厚度。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格比較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)控制。
 

磁感應(yīng)法測(cè)量塗層的原理

採(cǎi)用磁感應(yīng)原理測(cè)量塗層時(shí),利用探頭經(jīng)過(guò)非鐵磁塗層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定塗層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻大小,來(lái)表示其塗層覆層厚度。塗層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)的塗層測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁塗層厚度。一般要求基體導(dǎo)磁率在500以上。如果塗層材料也有磁性,則要求與基體的導(dǎo)磁率之間的差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的探頭放在被測(cè)樣片上時(shí),塗層測(cè)厚儀自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品採(cǎi)用指標(biāo)式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,塗層測(cè)厚儀將該信號(hào)放大後來(lái)指示塗層厚度。近幾年來(lái)採(cǎi)用了專業(yè)設(shè)計(jì)的積體電路,引入單晶片微處理器,增加先進(jìn)的工具,使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理塗層測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑膠、橡膠塗層,以及化工石油業(yè)的各種防腐塗層的厚度。
 

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),探頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)回饋?zhàn)饔昧勘磲缌颂筋^與導(dǎo)電基 體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電塗層厚度的大小。由於這類塗層測(cè)厚儀探頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基體上的塗層厚度,所以通常稱為非磁性探頭。非磁性探頭采 用高頻材料做線圈芯。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是塗層測(cè)厚儀探頭不同,信號(hào)頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)係不同。採(cǎi)用電渦流原理的塗層測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo) 電基體上的非導(dǎo)電塗層均可測(cè)量,如航太航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆,塑膠塗層及陽(yáng)極氧化膜。塗層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體,但這類任務(wù)還是採(cǎi)用磁性原理測(cè)量塗層厚度較為合適。
 
影響塗層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素。磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度,大於這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,隨著曲率半徑的減少明顯地增大,因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;探頭會(huì)使軟塗層試件變形,因此在這些試件上測(cè)不出可靠的資料;基體金屬和塗層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,影響增大,粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,還必須在未塗的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn),或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除塗層後,再校對(duì)儀器的零點(diǎn);周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;那些妨礙探頭與塗層表面緊密接觸的附著物質(zhì),必須清除,在測(cè)量中,要保持壓力恒定,探頭與試件表面保持垂直,才能達(dá)到精確的測(cè)量。

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